电磁干扰(EMI)真实兼容性测试或标准-华逸娱乐网登录

指出如果一个新产品在电磁干扰(EMI)真实兼容性测试或标准兼容性测试中结束，就迫切需要进行故障诊断和改进。而近场分析仪是根据频谱分析仪查询干扰源，检查改善效果最不可行的方法。图1认证机构安捷伦x系列信号分析仪和N9311X-100近场分析仪近场测试总结，用于各种校准天线的电磁辐射泄漏测试。

标准的远场电磁辐射泄漏测试可以准确、定量的告诉他被测零件是否符合合适的EMI标准。但远场测试并不能告诉工程师严重的电磁辐射问题是来自外壳的缝隙，还是连接的电缆，还是USB、LAN等通讯接口。在这种情况下，我们可以通过近场测试来定位电磁辐射的确切来源。

近场电磁干扰测量的问题是，近场分析仪的测量结果和天线部署的远场测量结果不能在数学上进行切换。但是没有基本原理：近场电磁辐射越大，远场电磁辐射越大。因此，近场分析仪的测量本质上是一种比较测量，而不是精确的绝对测量。在对近场分析仪进行电磁干扰真实兼容性测试时，我们经常将一个新的被测件的测试结果与一个未知合格被测件的近场分析仪(近场测试)的测试结果进行比较，以预测电磁干扰电磁辐射泄漏测试(远场测试)的结果，而不是与符合电磁干扰兼容性标准的允许线进行比较。

同时，测试意味着数值不显著，因为测试结果与许多变量没有密切关系，包括分析仪的方向和方位、被测零件的形状等。近场分析仪的类型和主要特点电磁场由电场和磁场组成。

在近场，电场和磁场的组合是不存在的，其强度不包含相同的关系。主要是提离源的类型要求是电场还是磁场占多数。简而言之，在低电压和低电流区域，电场小于磁场。

低电流，低电压区，磁场小于电场。同时，在主EMI测试频段，磁场随距离变化快得多。

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